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高分辨率掃描電子顯微鏡參考價：面議
高分辨率掃描電子顯微鏡SEM-200具有3nm分辨率能力和競爭力的掃描電鏡價格,廣泛用于科研單位使用。
型號： MRC-SEM-2... 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

高分辨率掃描電鏡掃描電子顯微鏡電子顯微鏡SEM圖像掃描電鏡價格

2026/2/28 11:27:452325
KPFM開爾文探針力顯微鏡參考價：面議
這款KPFM開爾文探針力顯微鏡,SKPM掃描開爾文探針力顯微鏡(Kelvin Probe Force Microscopy)可以訪問從50mm到350mm的樣品...
型號： FPKPT-SKP... 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

開爾文探針力顯微鏡KPFM開爾文顯微鏡探針力顯微鏡SKPM

2026/2/5 10:37:452038
掃描開爾文探針系統參考價：面議
大面積掃描開爾文探針系統能夠在垂直方向移動開爾文探針實現電動控制開爾文探針與樣品的距離。樣品安裝到真空吸盤上，真空吸盤可帶著樣品移動150x150mm位移，從...
型號： FPANF-AFT... 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

掃描開爾文探針掃描開爾文探針系統開爾文探針掃描開爾文開爾文探針品牌

2026/2/5 10:30:263237
高壓濺射PVD系統參考價：面議
高壓濺射PVD系統是為晶圓濺射金屬膜,磁性材料,多組分氧化物應用設計的高壓物理氣相沉積系統,得益于它靈活的配置和*殊的晶圓加熱器設計,PVD可以在溫度***高9...
型號： FPSEM-STE... 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

物理氣相沉積PVD系統PVD濺射高壓PVD

2026/2/5 10:23:471295
臺式薄膜沉積系統參考價：面議
臺式薄膜沉積系統為是模塊化的PVD系統,為您的研究和實施應用提供了多種沉積選項。可裝配電子束蒸發源E-beam,ORCA低溫蒸發源,熱蒸發源,磁控濺射等。
型號： FPKOR-HEX... 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

薄膜沉積薄膜沉積系統PVDPVD系統E-beam

2026/2/4 15:25:46366
衰變熒光壽命測量系統參考價：面議
衰變熒光壽命測量系統ChronosDFD是自動熒光壽命測試儀器,能夠測量絡合物的熒光和旋轉相關時間,熒光混合物在1秒內準確度為皮秒。可用于快速測量動力學過程；停...
型號： FPISS-Chr... 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

衰變熒光壽命測量熒光壽命熒光壽命測量熒光壽命測試衰變熒光

2026/2/2 15:39:424698
晶圓熱退火爐參考價：面議
這款晶圓熱退火爐是半導體晶片惰性氣氛快速熱退火系統,適合晶圓的最大直徑為100mm,晶圓通過上部快速檢修門手動裝入腔室，并放置在熱補償石墨臺上。加熱器系統基于線...
型號： FPSEM-RTA... 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

晶圓熱退火爐晶圓退火爐惰性氣氛退火晶片退火晶圓退火

2026/1/28 16:16:051673
光纖端面幾何測量儀參考價：面議
光纖端面幾何測量儀FiBO?300是一種多功能phase-shifting相移干涉儀，用于對裸光纖和非標準光纖連接器的光纖端面幾何結構測量分析。可變光學變焦具有...
型號： FPPRO-FiB... 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

光纖端面測量光纖端面測量儀光纖幾何測量儀相移干涉儀光纖端面

2026/1/27 15:44:25633
模場直徑有效面積測量系統參考價：面議
模場直徑有效面積測量系統是pe.fiberoptics公司光纖模場直徑測試和光纖有效面積分析測量設計的MFD和Aeff測試儀器。
型號： FPPEF-MA5... 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

模場直徑測量光纖有效面積MFD測試Aeff光纖模場直徑

2026/1/27 15:40:47635
開爾文探針系統參考價：面議
開爾文探針系統Kelvin Probe可用于光電化學中,精確測量不同半導體和導電材料的功函數，精度高。表面態在樣品的電荷轉移和功函數變化中起著重要作用。
型號： FPPRI-Kel... 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

開爾文探針系統Kelvin Probe開爾文探針功函數Kelvin

2026/1/27 15:17:081027
光纖光譜衰減測量儀參考價：面議
光纖光譜衰減測量儀SA500HD是為光纖衰減測量設計的光纖衰減測試儀器,利用DSP和固態單色儀技術測量光纖光譜損耗對波長的變化。高動態范圍允許測試現在在中發現的...
型號： FPPEF-SA5... 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

光纖衰減測量儀光纖衰減測量光纖衰減測試光纖光譜衰減光纖光譜損耗

2026/1/22 17:13:59589
超高真空超低溫四探針參考價：面議
超高真空超低溫四探針SPM是超高真空室內應用設計的UHV極低溫多探針掃描探針顯微鏡，得益于多探針SPM優異性能,這款產品可用于納米技術
型號： FPUNI-USM... 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

四探針低溫SPM掃描探針顯微鏡SPM顯微鏡低溫掃描探針顯微鏡

2026/1/22 17:01:59509
超高真空開爾文探針系統參考價：面議
超高真空開爾文探針系統幫助用戶充分利用真空下的工作功能和接觸電位差（CPD）測量。每個系統都配有高質量的手動或電動轉換器，可實現可靠和準確的針尖到樣品定位，跟蹤...
型號： FPKPT-UHV... 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

真空開爾文探針開爾文探針系統真空開爾文探針系統接觸電位差CPD測量

2026/1/22 16:59:261185
單點開爾文探針系統參考價：面議
我們的單點開爾文探針系統采用非零信號檢測方法對材料的功函數/費米能級進行非常高質量的測量。
型號： FPKPT-kp0... 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

單點開爾文探針系統開爾文探針系統開爾文探針功函數測量費米能級測量

2026/1/22 16:57:331022
玻璃翹曲度測量儀參考價：面議
這款玻璃翹曲度測量儀是大尺寸玻璃彎曲度測量儀和玻璃彎曲度測試儀,廣泛用于翹曲度測量,彎曲度測量,表面形貌測量和鍍膜測量等。,玻璃彎曲度測量儀,玻璃彎曲度測試儀由...
型號：廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

玻璃翹曲度測量儀玻璃彎曲度測試翹曲度測量儀翹曲度測試彎曲度測試儀

2026/1/12 16:12:523221
寬帶光學膜厚儀參考價：面議
寬帶光學膜厚儀是一款臺式光學薄膜測厚儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光,也可測量膜層厚度,測量薄膜光學常量折射率n...
型號： FRANG-SR5... 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

光學膜厚儀膜厚儀光學薄膜測厚儀薄膜測厚儀薄膜測厚

2026/1/12 15:36:001799
雙面探針臺參考價：面議
雙面探針臺GTL5050旨在解決電路板PCBA雙面探測的困難任務。而不是試圖用垂直安裝的板進行探測
型號： FPGIG-GTL... 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

探針臺雙面探針臺PCBA雙面探測PCBA探針臺

2026/1/12 15:24:30740
大面積探針臺參考價：面議
大面積探針臺GTL4060是為較大面積PCBA探針分析測試設計的大面積探針平臺,具有更大的測試平臺，以容納中大型測試板，但仍然能夠在較小的板、插座、連接器和子組...
型號： FPGIG-GTL... 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

探針臺探針分析大面積探針臺探針平臺探針測試

2026/1/12 15:23:49475
非接觸式探針臺參考價：面議
這款非接觸式探針臺是為高頻電子設備、IC和材料測試/表征設計的非接觸式探針測試分析系統。實現了整個毫米波和太赫茲波段電子設備和IC的自動S參數表征。測量范圍為5...
型號： FPTER-Ter... 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

非接觸式探針臺探針臺探針測試IC探針電子探針測試

2026/1/12 15:21:321269
晶圓電阻率測試儀Sheet Resistance 參考價：面議
晶圓電阻率測試儀Sheet Resistance采用非接觸方式測量晶圓電阻率,測量P/N類型和晶圓厚度,適合硅材料和其它材料的Sheet Resistance測...
型號： FPEH-MX60 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

晶圓電阻率測試儀電阻率測試儀晶圓電阻率測試晶圓電阻率Sheet Resistance

2026/1/8 19:40:02489
硅片TTV厚度測試儀,測量硅片厚度參考價：面議
該硅片TTV厚度測試儀是采用紅外干涉技術的硅片厚度測量儀，能夠精確測量硅片厚度和測量TTV總厚度變化，也能實時測量超薄晶圓厚度（掩膜過程中的晶圓），硅片厚度測試...
型號： FP-TTV 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

TTV厚度測試儀TTV測試儀硅片厚度TTV厚度測試總厚度變化

2026/1/8 19:39:139529
四探針電阻率電導率計參考價：面議
這款四探針電阻率電導率計可快速測量材料的薄層電阻,方塊電阻,sheet resistance電阻率和電導率,適合多種材料和樣品測量。
型號： FPOSS-FOU... 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

四探針電阻率計四探針電導率薄層電阻方塊電阻sheet resistance

2026/1/8 19:38:591503
晶圓厚度變化測量儀參考價：面議
高分辨率晶圓厚度和厚度變化測量儀MX10x系列是德國測量硅片厚度和TTV厚度變化的儀器。它的分辨率高達10nm，可以在幾秒鐘內適應不同的厚度范圍。
型號： FPEH-MX10... 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

晶圓厚度測量厚度變化測量儀TTV厚度TTV測量儀硅片厚度測量

2026/1/8 19:38:461899
自動四探針電阻率mapping測試系統參考價：面議
自動四探針電阻率mapping測試系統是為晶圓電阻率繪圖mapping設計的工業級自動四點探針電阻率測試系統。采用成熟的行業標準，提供快速、準確和可靠的晶圓樣品...
型號： FPMIC-A4P 廠商性質：經銷商所在地：上海市對比

電阻率測試電阻率mapping電阻率繪圖四點探針電阻率四探針電阻率測試

2026/1/8 19:38:04804

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